ToF SIMS

физико-химические методы исследования, методики и другие вопросы аналитической химии
analytical chemistry, analysis and techniques for professionals
Ответить
Rupreht
Сообщения: 368
Зарегистрирован: Пт сен 12, 2008 9:34 pm

ToF SIMS

Сообщение Rupreht » Вт апр 18, 2017 5:58 pm

коллеги, добрый день

Подскажите, наш поставщик по следующей методике определял содержание силоксана на поверхности полипропиленовой пленки:

Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF SIMS)
ToF SIMS analysis was carried out in duplicate on the top surface of all of the samples. Ratios were taken, using the positive spectra, for hydrocarbon fragments at m/z 41 and 55 against PDMS at m/z 73 and 147. Peak height ratios were then calculated to determine the PDMS levels on the top surface. The PDMS levels were calculated by taking the average of the peak intensity ratios. A higher ratio indicates a higher level of PDMS on the surface.

есть ли возможность провести нечто подобное в Москве и корректно ли это?

Аватара пользователя
Любитель_Манниха
флудомастер
Сообщения: 15138
Зарегистрирован: Вт июл 15, 2008 11:55 pm

Re: ToF SIMS

Сообщение Любитель_Манниха » Ср апр 19, 2017 12:25 am

Могу дать контакт крутых масс-спектрометристов (институт нефтехим.синтеза), если можно сделать - договоритесь.
Я лично правами человека накушалась досыта. Некогда и мы,и ЦРУ,и США использовали эту идею как таран для уничтожения коммунистического режима и развала СССР. Эта идея отслужила свое,и хватит врать про права человека и про правозащитников. © Новодворская

Rupreht
Сообщения: 368
Зарегистрирован: Пт сен 12, 2008 9:34 pm

Re: ToF SIMS

Сообщение Rupreht » Пт апр 21, 2017 10:36 pm

Спасибо, давайте)

Ответить

Вернуться в «аналитическая химия / analytical chemistry»

Кто сейчас на конференции

Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и 15 гостей