Сканирующая оже спектроскопия

[MEGAKILLER]

кто нибудь подскажет поверхностное разрешение метода?

[Cherep]

Замечание за кросс-постинг.

Может эту тему в аналитику задвинуть? (я в этом методе не компетентен)

[Himera]

Да, чем, в конце концов, не аналитический метод...

Поверхностное разрешение зависит от прибора (фокусировка пучка и его мощность) и от объекта. Вроде бывает как 0.1 мкм, так и 10 мкм.

[ti]

кто нибудь подскажет поверхностное разрешение метода?

латеральное разрешение метода определяется разрешением растрового электронного микроскопа входящего в состав сканирующей оже спектроскопии. латеральное разрешение современных РЭМ (JEOL, например) составляет около 3 нм. я работаю на РЭМ SEM-20 (компания FEI) диаметр электронного зонда - 20 нм.