Код: Выделить всё
(www.iop.org)J A P Lima, E Marín, M G da Silva, M S Sthel, D U Schramm, S L Cardoso, H Vargas and L C M Miranda
J A P Lima et al 2001 Meas. Sci. Technol. 12 1949-1955
Received 11 January 2001, in final form and accepted for publication 16 August 2001
Published 9 October 2001
Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/12/11/326Код: Выделить всё
http://www.iop.org/ej/abstract/0957-0233/12/11/326автор: A Bendada
A Bendada 2002 Meas. Sci. Technol. 13 1946-1951
Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/13/12/319 Код: Выделить всё
http://www.iop.org/ej/abstract/0957-0233/13/12/319A C Bento and D P Almond
A C Bento et al 1995 Meas. Sci. Technol. 6 1022-1027
Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/6/7/025Код: Выделить всё
http://www.iop.org/ej/abstract/0957-0233/6/7/025