Ft-Ir spectrometry for the solid/solution interface
M. A. Habib, J. O'M. Bockris
Journal of Electroanalytical Chemistry, Volume 180, Issues 1-2, 10 December 1984, Pages 287-306
Код: Выделить всё
doi:10.1016/0368-1874(84)83587-XКод: Выделить всё
doi:10.1016/0368-1874(84)83587-XСейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и 25 гостей