F. L. Lu, Fred Wudl, M. Nowak, and A. J. Heeger
pp 8311 - 8313;
Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1021/ja00286a057
D. Vachon, R. O. Angus, Jr. , F. L. Lu, M. Nowak, Z. X. Liu, H. Schaffer, F. Wudl and A. J. Heeger
Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1016/0379-6779(87)90895-2
Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1002/cber.19230560110