Детектор кремнийорганического слоя (NDIR)

форум для обсуждения технологических вопросов, появляющихся в химической и смежных отраслях
chemtech and the results of science in real production
Ответить
Hamlet73
Сообщения: 2
Зарегистрирован: Вт фев 21, 2017 11:06 am

Детектор кремнийорганического слоя (NDIR)

Сообщение Hamlet73 » Вт янв 15, 2019 10:45 am

Добрый день!
Просьба помочь мыслями/советами.

Имеется технологический процесс по нанесению кремнийорганического полимера толщиной ~1 микрон на пленку-носитель типа ПЭТ толщиной ~35 микрон.
Стоит задача контролировать наличие нанесенного слоя по поверхности пленки-носителя в технологическом цикле (при поливе).
Одна из идей использовать для этого технологию NDIR. В основе которой лежит применение ИК оптопары (излучатель + детектор). Излучение проходит через исследуемый объект (на пропускание) и на характерных длинах волн для предполагаемого вещества происходит ослабление излучения, при этом величина ослабления зависит от концентрации вещества.

При ИК спектроанализе пленок с нанесением и без него, выявлен характерный для кремнийорганического соединения пик ослабления на длине волны 9.6микрон (1040 см-1). Смотрите вложение (зеленый график - ПЭТ, коричневый - кремнийорганическое соединение).

При экспериментах использовался детектор с полосовым фильтром 9.5микрон +/-60нм. Излучение однократно пропускается через исследуемую пленку.В результате чувствительность на кремнийорганический слой не наблюдается, либо сильно мала (на уровне шумов), что не даст должного уровня надежности детектирования. Видимо сказывается соотношения пленки-носителя к интересуемому слою, т.к. пленка ПЭТ тоже имеет ослабление на данной длине волны хоть и меньшее.

Подскажите, пожалуйста, как можно повысить чувствительность и стоит ли копать в эту сторону или существуют альтернативные методы?
У вас нет необходимых прав для просмотра вложений в этом сообщении.

Аватара пользователя
avor
Сообщения: 12650
Зарегистрирован: Пн янв 24, 2005 1:13 pm

Re: Детектор кремнийорганического слоя (NDIR)

Сообщение avor » Вт янв 15, 2019 1:38 pm

Забейте. Ищите в стороне элипсометрии и интерферометрии.

Ответить

Вернуться в «химическая технология / chemical technology&production»

Кто сейчас на конференции

Сейчас этот форум просматривают: Google [Bot] и 22 гостя