Помощь с микроскопом

[chaus]

Вы видимо не в курсе, что физического, а не интерполированного разрешения там 2400(это в лучшем случае на дорогом аппарате а так может и 800 оказаться), а так же не в курсе сколько времени этот умник сканирует слайд 60х45мм в таком разрешении. Про 10' на А4 можно забыть сразу
...
А вот двигать сенсор подставляя микроскопу разные части подложки должен либо оператор(относительно дешево) либо робот(оочень дорого).

Я надеялся, что китайцы уже научились делать сканеры с физическим разрешением 4800

Физическое разрешение 2400 -- это стандарт ещё в нулевые годы. А для обнаружения дефекта размером 0,09 мм (0.0035") вполне хватит и разрешения 1200. Тогда и за 10 мин. формат А4 он отсканирует.

В сканере как раз автоматизировано движение сенсора и объекты зафиксированы в плоскости, т.е. аберрации сведены к минимуму.

А дальше все просто: увеличение зафиксировать и откалибровать систему на тест объекте. Все. Софт по идее может выделять дефекты по границе интенсивности и снимать линейные размеры объекта, а затем выдавать тупо статистику на сектор: Найдено столько-то объектов попадающих в тот или иной интервал размеров.

Кстати, такого софта сколько угодно для автоматического анализа размеров частиц.

[avor]

--Кстати, такого софта сколько угодно для автоматического анализа размеров частиц.
Вот, вот....

[avor]

--В сканере как раз автоматизировано движение сенсора и объекты зафиксированы в плоскости, т.е. аберрации сведены к минимуму.
Там все равно линза стоит перед ПЗС линейкой.

[avor]

--Физическое разрешение 2400 -- это стандарт ещё в нулевые годы. А для обнаружения дефекта размером 0,09 мм (0.0035") вполне хватит и разрешения 1200. Тогда и за 10 мин. формат А4 он отсканирует.

Смотря с какой точность вам это надо делать. Если надо 100% отличать дефект ,09мм от 0,08мм то не хватит и 4800 а если с вероятность процентов 70-80, то наверное прокатит и 1200.

[chaus]

Смотря с какой точность вам это надо делать. Если надо 100% отличать дефект ,09мм от 0,08мм то не хватит и 4800 а если с вероятность процентов 70-80, то наверное прокатит и 1200.

Я так понял, что им надо отличать "есть -- нет".

[avor]

Ну вот он буде 0,08 принимать за ,09 в 30-40 случаев

[chaus]

Ну вот он буде 0,08 принимать за ,09 в 30-40 случаев

Думаю, гораздо чаще. Если взять аппаратное разрешение 1200 ppi, то дефект размером 0.09 мм будет иметь размер на изображении примерно 3х3 -- 4х4 пикс. Так что достоверно можно будет только определить само наличие дефекта (оптической неоднородности поверхности).

[Commander L]

Я надеялся, что китайцы уже научились делать сканеры с физическим разрешением 4800

Вопрос на засыпку - нафига оно надо? 85-90% пользователей сканеров вполне устроят бытовые 800 dpi, для остальных есть фотосканеры от Эпсон и дорогущее профоборудование от Durst и других фирм.

Физическое разрешение 2400 -- это стандарт ещё в нулевые годы.

Для фотосканера - да, но стоить он будет раз так в 10-15 дороже того что пользует ТС.

В сканере как раз автоматизировано движение сенсора и объекты зафиксированы в плоскости, т.е. аберрации сведены к минимуму.

Весьма спорное утверждение, весьма. Со сканером серьезнее другая проблема - отражения, (подложки же металлические). Если туда сунуть отражающую поверхность (зеркало, например), то можно отсканировать заднюю крышку его с некоторыми искажениями.

Про макро-объектив и камеру - дорого это очень, хороший макрик 1:1 от 20-25 к стоить будет, добавьте штатив и камеру - порядка 50к и более выльется все. Еще нужно проверять его дисторсию.

[Commander L]

Китайцы очень прагматичны и, если на горизонте не маячит серьезная прибыль, напрягаться просто так не будут. Тех кому нужно высокое разрешение при сканировании очень мало.

[chaus]

Со сканером серьезнее другая проблема - отражения, (подложки же металлические).

Насколько я понял, они как раз керамические.

И если автору нужно не измерять в точности размеры и морфологические особенности дефекта, а просто установить факт его наличия -- зачем все эти заморочки с микроскопами, сканерами и т.п.?

Можно использовать принцип полного внутреннего отражения. Наложить на подложку прозрачную контрольную пластину (стекло, плексиглас и т.п.) с показателем преломления, меньшим, чем у подложки, и наблюдать отражение параллельного пучка света с углом падения, большим угла полного внутреннего отражения для контрольной пластины. От поверхности раздела подложка--пластина в таких условиях заметного отражения не будет, а от места, где на подложке имеется дефект -- будет наблюдаться полное отражение от поверхности контрольной пластины, не контактирующей с подложкой. Т.е. дефект ярко блеснёт на поверхности, и этого будет достаточно для диагностики.

[avor]

Не! Автору нужно забраковать пластину если на ней присутствует дефект определенного размера. Если он меньше подложка не бракуется, я так понял. Если бы браковались пластины с любым обнаруживаемым дефектом можно было бы просто посадить человека даже без лупы. Человек по идее должен различать дефект прядка 0,07 мм с расстояния в 25 см. Ну и все если человек заметил хоть одно пятнышко на репутации пластины ее бракуют. Это занимало бы секунд 5-10 на пластину. А тут явно какие-то более хитрые требования.

[Commander L]

И если автору нужно не измерять в точности размеры

нужен способ, вывести на монитор изображение, со шкалой, для выявления размера дефекта.