1. Atomic force microscope force spectroscopy study of the electric double layer at a liquid crystal interface
M. Škarabot, I. Muševič
J. appl. Phys., 2009, 105, art. 014905
Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1063/1.3043573 O. Yaroshchuk; O. Koval'Chuk; R. Kravchuk
Mol. Cryst. Liq. Cryst., 2005, 438, pp 1759-1768
Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1080/15421400590958151