Yao Y.M., Tholen A.R. - Characterization of contacting boundaries between nanoparticles with LACBED. // Microscopy and Microanalysis. 2003. V. 9. N. 3. P. 237 - 244.
Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927603030186+++ 1 CMB Micro&Micro
+++ 1 CMB Micro&Micro
Еще бы и вот эту
Yao Y.M., Tholen A.R. - Characterization of contacting boundaries between nanoparticles with LACBED. // Microscopy and Microanalysis. 2003. V. 9. N. 3. P. 237 - 244.
Yao Y.M., Tholen A.R. - Characterization of contacting boundaries between nanoparticles with LACBED. // Microscopy and Microanalysis. 2003. V. 9. N. 3. P. 237 - 244.
Последний раз редактировалось kms Пн июл 20, 2009 1:14 pm, всего редактировалось 1 раз.
Re: 1 CMB Micro&Micro
вот... 
Re: +++ 1 CMB Micro&Micro
Спасибо!!!
Кто сейчас на конференции
Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и 44 гостя