Journal of Applied Crystallography
Volume 22, Part 4 (August 1989)
RAD, a program for analysis of X-ray diffraction data from amorphous materials for personal computers
V. Petkov
Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1107/S0021889889002104Код: Выделить всё
http://dx.doi.org/10.1107/S0021889889002104Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и 144 гостя