1. A profile-fitting procedure for analysis of broadened X-ray diffraction peaks. I. Methodology
S.Enzo G.Fagherazzi A.Benedetti S.Polizzi
1988, Volume 21 Issue 5, Pages 536 - 542
Код: Выделить всё
http://www3.interscience.wiley.com/journal/119449801/abstract
R. K.Nandi H. K.Kuo W.Schlosberg G.Wissler J. B.Cohen B.CristJnr
1984, Volume 17 Issue 1, Pages 22 - 26
Код: Выделить всё
http://www3.interscience.wiley.com/journal/119523854/abstract
Th.de Keijser E. J.Mittemeijer H. C. F.Rozendaal
1983, Volume 16 Issue 3, Pages 309 - 316
Код: Выделить всё
http://www3.interscience.wiley.com/journal/119540594/abstract