+++2 из J.VAc.Sci.Technol & J.Am.Chem.Soc.

В этом форуме размещаются только запросы на материалы из on-line источников -- обязательно приводить электронную ссылку
Ответить
Yuriv
Сообщения: 212
Зарегистрирован: Вт фев 05, 2008 1:10 pm

+++2 из J.VAc.Sci.Technol & J.Am.Chem.Soc.

Сообщение Yuriv » Чт апр 07, 2011 10:39 am

Помогите, пожалуйста, достать работы

1. X-ray photoelectron spectroscopy surface charge buildup used to study residue in deep features on integrated circuits
J. H. Thomas, C. E. Bryson, and T. R. Pampalone
J. Vac. Sci. Technol. B 6, 1081 (1988)

Код: Выделить всё

http://dx.doi.org/10.1116/1.584301
2. High-Resolution Lateral Differentiation Using a Macroscopic Probe: XPS of Organic Monolayers on Composite Au−SiO2 Surfaces
Keren Shabtai, Israel Rubinstein, Sidney R. Cohen, and Hagai Cohen
J. Am. Chem. Soc., 2000, Volume 122, Issue 20, pp 4959–4962

Код: Выделить всё

http://dx.doi.org/10.1021/ja993710h

Заранее большое спасибо.
Последний раз редактировалось Yuriv Чт апр 07, 2011 2:45 pm, всего редактировалось 1 раз.

Аватара пользователя
iskariot
Сообщения: 2271
Зарегистрирован: Пт сен 15, 2006 2:37 pm

Re: 2 из J.VAc.Sci.Technol & J.Am.Chem.Soc.

Сообщение iskariot » Чт апр 07, 2011 10:47 am

2 :arrow:
У вас нет необходимых прав для просмотра вложений в этом сообщении.

Аватара пользователя
eFo
Сообщения: 4068
Зарегистрирован: Вс ноя 07, 2010 7:32 pm

Re: 2 из J.VAc.Sci.Technol & J.Am.Chem.Soc.

Сообщение eFo » Чт апр 07, 2011 10:58 am

1 :idea:
У вас нет необходимых прав для просмотра вложений в этом сообщении.

Yuriv
Сообщения: 212
Зарегистрирован: Вт фев 05, 2008 1:10 pm

Re: 2 из J.VAc.Sci.Technol & J.Am.Chem.Soc.

Сообщение Yuriv » Чт апр 07, 2011 2:45 pm

Спасибо большое за помощь.

Ответить

Вернуться в «Статьи и книги on-line»

Кто сейчас на конференции

Сейчас этот форум просматривают: Google [Bot] и 12 гостей