Technology innovation risk mitigation and organizational strategy: A balanced framework for technology managers
Graham, A.M.; Rogers, J.;
Ind. & Manuf. Syst. Eng. Dept., Univ. of Texas at Arlington, Arlington, TX, USA
This paper appears in: Technology Management in the Energy Smart World (PICMET), 2011 Proceedings of PICMET '11:
Issue Date: July 31 2011-Aug. 4 2011
On page(s): 1 - 6
Location: Portland, OR
E-ISBN: 978-1-890843-24-3
Print ISBN: 978-1-4577-1552-5
INSPEC Accession Number: 12229234
Date of Current Version: 12 September 2011
ABSTRACT
+++ IEEE 1
+++ IEEE 1
Последний раз редактировалось KCN Пт окт 14, 2011 9:31 am, всего редактировалось 1 раз.
Re: IEEE 1
done got it
Кто сейчас на конференции
Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и 3 гостя