Детектор кремнийорганического слоя (NDIR)

[Hamlet73]

Добрый день!
Просьба помочь мыслями/советами.

Имеется технологический процесс по нанесению кремнийорганического полимера толщиной ~1 микрон на пленку-носитель типа ПЭТ толщиной ~35 микрон.
Стоит задача контролировать наличие нанесенного слоя по поверхности пленки-носителя в технологическом цикле (при поливе).
Одна из идей использовать для этого технологию NDIR. В основе которой лежит применение ИК оптопары (излучатель + детектор). Излучение проходит через исследуемый объект (на пропускание) и на характерных длинах волн для предполагаемого вещества происходит ослабление излучения, при этом величина ослабления зависит от концентрации вещества.

При ИК спектроанализе пленок с нанесением и без него, выявлен характерный для кремнийорганического соединения пик ослабления на длине волны 9.6микрон (1040 см-1). Смотрите вложение (зеленый график - ПЭТ, коричневый - кремнийорганическое соединение).

При экспериментах использовался детектор с полосовым фильтром 9.5микрон +/-60нм. Излучение однократно пропускается через исследуемую пленку.В результате чувствительность на кремнийорганический слой не наблюдается, либо сильно мала (на уровне шумов), что не даст должного уровня надежности детектирования. Видимо сказывается соотношения пленки-носителя к интересуемому слою, т.к. пленка ПЭТ тоже имеет ослабление на данной длине волны хоть и меньшее.

Подскажите, пожалуйста, как можно повысить чувствительность и стоит ли копать в эту сторону или существуют альтернативные методы?

[avor]

Забейте. Ищите в стороне элипсометрии и интерферометрии.